單光束紫外可見分光光度計和雙光束紫外分光光度計的區別
1.    單光束儀器
單光束儀器只有一條光路，在各個波長上依次對參比標準和樣品進行測量，對測試結果進行比較，計算出樣品的反射因數（或透射比）。各個波長上比較當然很麻煩。一般是先將參比標準在整個波長范圍內測試，將測試結果保持。然后以樣品代替標準作同樣測量，再計算結果。單光束儀器的優點是能夠保證參比標準和待測樣品在*相同的光路和電氣條件下進行測量；缺點是必須保證在標準和樣品（有時連續測多個樣品）整個測試時間內儀器保持穩定。對于這種要求，現代的電子器件和技術、穩壓好的恒定光源還是可以達到的，能滿足一般使用。但儀器應充分預熱以達到穩定。有的廠家常用一個光電器件監測光源總能量的變化，這稱作準（假）雙光束方式。它只能一定程度上校正光源變化產生的誤差；因為光能變化較大時，還會引起光源光譜功率分布的變化，各個波長上光能的變化并不一定按同一比例增減。當然也不能校正電氣部分的漂移。
雙光束儀器
常見的雙光束儀器有兩種安排
1儀器的光度系統分成兩條光路，一條測試光路，一條參比光路。在參比窗口上放置一參照物；測試窗口則先后放置參比標準和待測樣品。兩光束在分別經過參照物和參比標準（或待測樣品）后，合在一起，以很短的時間間隔被同一探測器交替接收，完成兩路信號的采集。
參比標準和待測樣品必須放在同一條光路內進行測試，這是因為兩條光路很難做到*對稱，效率相同。只有在同一條光路內，探測器輸出的信號大小才只決定于被測物體的反射因數（或投射因數），這樣，就可以由參比標準、待測樣品的響應值和參比標準的反射因數（或投射因數）的數據算出待測樣品的反射因數。

參比光路和參照物的作用是，監測參比標準和待測樣品測量過程中光源能量波動和電氣部分的漂移，計算機將兩次測量中的變化情況逐個記錄，在zui后計算時予以校正。這就是與單光束儀器本質上不同的地方。

有人企圖將參比標準和待測樣品分別放在參比光路和測試光路內，一次測量完成工作，這種簡單作法是不可用的。但是如果事先對兩光路的不平衡性，進行測試，并予以記錄，而且儀器又很穩定，zui后對這種不平衡性進行校正，還是可以的。事實上有的儀器也用了這種方法。
這種雙光束儀器，因為是用的同一套電氣系統，兩光路測試相隔時間極短，所以它既能校正光源的波動，又能校正電氣漂移帶來的誤差。

用陣列接收器件的分光光度計中，很難用同一探測器來接收參比光路和測試光路分別送來的信號。因此，兩條光路各自有自己的探測器。事實上，這類儀器可做成幾乎*相同的兩套測試系統，一套對樣品和參比標準進行測試，同前面說的一樣；另一套系統對光源（或照明光束）進行測試。監視在參比標準和待測樣品測試過程中，照明光源光譜功率變化的情況，并進行記錄。計算時校正光源變化的影響。因為電器系統兩套，所以這種雙光路不能校正電氣部分漂移造成的誤差。而光源的能量變化可得到很好的校正，即使用閃光燈也沒有問題。就電氣部分的漂移而言，如前所說，現代的電子器件的技術是可以滿足使用要求的。